Comprendre et mesurer la fonction d'étalement du point (PSF) est essentiel pour évaluer la résolution et le rendement optique des systèmes de microscopie à fluorescence. Cette ressource fournit un protocole détaillé pour la mesure de la PSF, ainsi que des lignes directrices sur la façon d'interpréter les données de PSF pour la déconvolution, la restauration d'images et l'étalonnage des systèmes. Les chercheurs utilisant des microscopes à champ large, confocaux et à super-résolution peuvent appliquer ces techniques pour quantifier les distorsions optiques et améliorer la précision des images.