Traduit de l'anglais
Mesure l'épaisseur des couches minces et les constantes optiques (n et k) de films diélectriques, organiques, semi-conducteurs et métalliques, de couches sous-nanométriques jusqu'à des dizaines de microns pour les films transparents.
15 $ US à 72 $ US / heureTous les tarifsVoir les tarifs
Le M-2000 mesure l'épaisseur des couches minces et les constantes optiques. Il est sensible à moins d'une monocouche de matériau sur une surface et peut déterminer l'épaisseur de films transparents jusqu'à des dizaines de microns. Il mesure n et k pour tout type de matériau : diélectrique, organique, semi-conducteur ou métallique.
Utilisez-le pour évaluer les propriétés des matériaux, cartographier l'uniformité et effectuer des analyses de contrôle de la qualité.
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