Microscope électronique à balayage (MEB) avec EDS

Aperçu : Le microscope électronique à balayage (MEB) Phenom ProX avec spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS) offre une imagerie de surface à haute résolution et une analyse élémentaire complète, idéales pour la caractérisation des matériaux à l'échelle micro- et nanométrique.

Caractéristiques principales :

• Imagerie MEB haute résolution
• EDS intégrée pour l'analyse détaillée de la composition chimique
• Interface conviviale pour une utilisation intuitive
• Imagerie rapide avec un temps de préparation minimal

Spécifications techniques :

• gamme de longueurs d'onde : Non applicable pour le MEB
• résolution : ≤6 nm (SED), ≤8 nm (BSD)
• grossissement : 160-350 000x
• ouverture numérique : Non applicable pour le MEB
• limite de détection : Détection élémentaire jusqu'au bore (B)
• vitesse de balayage : 30 secondes du chargement à l'imagerie

Applications : Convient aux utilisateurs industriels nécessitant une analyse élémentaire détaillée, aux plateformes de recherche souhaitant élargir leurs capacités et à des fins éducatives.