Traduit de l'anglais
Devis sur demande
Le Hitachi SU-9000 est un système haut de gamme combinant microscope électronique à balayage à émission de champ froid (CFE-SEM) et microscope électronique à balayage en transmission (STEM), reconnu pour son imagerie à ultra-haute résolution et ses capacités analytiques avancées. Il atteint une résolution remarquable de 0,16 nm à 30 keV en mode BF et de 0,4 nm en mode SE, offrant une résolution de réseau et des performances exceptionnelles à basse énergie de faisceau. L'instrument est équipé de la spectroscopie par dispersion d'énergie (EDS) et de la spectroscopie par perte d'énergie des électrons (EELS), ainsi que de la diffraction électronique à faisceau convergent (CBED). Il fournit un courant de sonde maximal de 10-30 nA et comprend des détecteurs SE/BSE intra-lentille avec filtrage en énergie (détecteurs supérieur et sommital), un détecteur STEM BF avec ouvertures, ainsi qu'un détecteur ADF/HAADF à l'état solide à 4 quadrants avec angles de collecte réglables. Les composants analytiques incluent un SDD sans fenêtre Oxford Instruments Extreme de 100 mm² et un CDD 1600 x 1200 pour la CBED. Il prend en charge le STEM-EELS à basse tension (20, 30 kV) et intègre le nettoyage in situ en aval eCloud. Le contrôle externe s'effectue via le logiciel Azorus de Hitachi High-Tech.
Découvrez d'autres ressources qui pourraient soutenir vos travaux