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Le MEB Hitachi SU3900 permet l'imagerie à faibles et forts grossissements à l'aide d'électrons secondaires, d'électrons rétrodiffusés, de rayons X et de cathodoluminescence. Équipé de deux détecteurs EDS SDD Bruker XFlash7 30mm² pour la cartographie à grande vitesse, d'un détecteur CL UVD Hitachi intégré et d'un détecteur CL à filtrage de couleur DELMIC SPARC Compact. Prend en charge le mode à pression variable et la minéralogie automatisée avec Bruker AMICS.
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