Traduit de l'anglais
AFM pour l'imagerie dans l'air ou en milieu liquide et pour la spectroscopie de force, doté d'un scanneur scellé pour les liquides, d'un scanneur Z en boucle fermée et d'un élément chauffant/refroidissant pour le contrôle de la température.
5 $ US à 35 $ US / heureTous les tarifsVoir les tarifs
Notre MultiMode 8 fonctionne avec un contrôleur NanoScope V. Un scanneur piézoélectrique scellé à approche verticale EVLR assure l'imagerie en milieu liquide, un scanneur Z en boucle fermée PicoForce prend en charge la spectroscopie de force, et l'accessoire MultiMode Heater/Cooler contrôle la température de l'échantillon. En complément de nos systèmes Dimension Icon/FastScan, il offre des modes électriques et magnétiques tels que la microscopie à force sonde Kelvin, l'AFM à effet tunnel, la microscopie à capacité de balayage, la microscopie à force piézoélectrique et la microscopie à force magnétique.
L'imagerie en milieu liquide requiert une formation et une certification distinctes en plus de la formation standard dans l'air.
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