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Le Hitachi Cold FE SU-8000 est un microscope électronique à balayage (MEB) à émission de champ froide à la fine pointe de la technologie, reconnu pour son ultra-haute résolution atteignant 0,5 nm à 30 kV et 2 nm à 0,2 kV. Il comprend un ensemble complet de 7 détecteurs, dont un détecteur inférieur d'électrons secondaires (SE), un détecteur supérieur SE/BSE, un détecteur sommital SE/BSE avec filtrage d'énergie, un détecteur BSE à cinq quadrants, un détecteur STEM (microscopie électronique à balayage par transmission) pour l'imagerie en champ clair et en champ sombre, un détecteur EDS à SDD et une caméra EBSD. Grâce à un courant de sonde maximal de 30 nA, il facilite la microanalyse quantitative aux rayons X à basse tension et en mode STEM, ce qui le rend idéal pour la caractérisation avancée à l'échelle nanométrique.
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