Traduit de l'anglais
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Le MEB Hitachi S-3400N-II est destiné aux caractérisations mécaniques in situ à l'aide de microsystèmes électromécaniques (MEMS) et d'appareils de traction miniaturisés. Il offre une imagerie à haute résolution et l'analyse de microstructures, facilitant la recherche en science des matériaux et en génie mécanique.
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