Microscopie électronique à balayage et en transmission - (S)TEM Thermo Scientific Talos F200X G2 pour la science des matériaux

Le (S)TEM Thermo Scientific Talos F200X G2 est un microscope électronique à balayage et en transmission (S/TEM) 200 kV haute performance conçu pour la caractérisation avancée des matériaux. Équipé d'une gamme d'outils analytiques de pointe, ce système permet l'imagerie haute résolution, la cartographie élémentaire et la spectroscopie des pertes d'énergie d'électrons (EELS), ce qui le rend idéal pour les nanomatériaux, les semi-conducteurs et l'analyse structurale.

Caractéristiques principales :

✅ Technologie ChemiSTEM - Améliore l'efficacité de la spectrométrie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS) avec une sensibilité et une vitesse accrues.

✅ Source à émission de champ Schottky à haute brillance X-FEG - Fournit un courant de faisceau élevé avec une stabilité et une résolution améliorées.

✅ Caméra CMOS Ceta 16M (4k × 4k) - Imagerie haute résolution avec une plage dynamique étendue et une acquisition rapide.

✅ EDS sans fenêtre Super-X - Détecteur au silicium à dérive (SDD) à quatre quadrants intégré dans la colonne pour une analyse élémentaire à haut débit.

✅ Gatan Enfinium ER modèle 977 - Système de spectroscopie des pertes d'énergie d'électrons (EELS) avancé pour l'analyse des états chimiques et des liaisons.

✅ Porte-échantillons de haute précision :

• Porte-échantillon à simple inclinaison (+/- 35°) pour les applications d'imagerie standard.
• Porte-échantillon en béryllium à double inclinaison - À faible bruit de fond, optimisé pour l'analyse EDS.
• Porte-échantillon de tomographie analytique Fischione modèle 2021 - À simple inclinaison (+/- 80°) pour l'analyse structurale 3D haute résolution.

Ce système est un excellent outil pour les chercheurs nécessitant une imagerie haute résolution, une caractérisation élémentaire approfondie et une analyse spectroscopique avancée.