Ellipsomètre imageur / Microscope à angle de Brewster

Aperçu : L'ellipsomètre imageur / microscope à angle de Brewster est conçu pour la mesure précise de l'épaisseur des couches minces, de l'indice de réfraction et des propriétés de surface à l'aide de techniques avancées d'ellipsométrie et de microscopie à angle de Brewster. Il est idéal pour la caractérisation des interfaces à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques principales :

• Combine l'ellipsométrie et la microscopie pour une analyse détaillée des surfaces
• Visualisation en temps réel des propriétés de surface
• Capacités d'imagerie haute résolution

Spécifications techniques :

• plage de longueurs d'onde : 360 nm to 1000 nm
• résolution : 0,01 nm
• grossissement : 2x to 50x
• ouverture numérique : 0,95
• limite de détection : 0,35 nm
• vitesse de balayage : 47 minutes pour une plaquette complète de 4”

Applications : Utilisé en recherche pour l'inspection de surfaces, le contrôle de la qualité et la caractérisation de microstructures et de couches minces.