Microscope à force atomique (AFM)

Aperçu : Le microscope à force atomique (AFM) MultiMode 8-HR est conçu pour l'imagerie à haute résolution et l'analyse de la topographie de surface à l'échelle nanométrique, des propriétés mécaniques et des mesures de force, adapté aux échantillons de matériaux comme aux échantillons biologiques.

Caractéristiques principales :

• Capacités d'imagerie à haute résolution
• Contrôle environnemental avancé avec options de chauffage et de refroidissement
• Technologie PeakForce Tapping pour une vitesse d'imagerie accrue
• Plateforme polyvalente offrant la flexibilité du libre accès

Spécifications techniques :

• gamme de longueurs d'onde : Sans objet (l'AFM n'utilise pas de longueurs d'onde optiques)
• résolution : Résolution subnanométrique
• grossissement : Sans objet (l'AFM n'utilise pas de grossissement traditionnel)
• ouverture numérique : Sans objet (l'AFM n'utilise pas de lentilles optiques)
• limite de détection : Détection à l'échelle atomique
• vitesse de balayage : Jusqu'à 6 fois plus rapide que les AFM conventionnels avec PeakForce Tapping

Applications : Utilisé en recherche sur les matériaux, en biologie et en nanocaractérisation pour l'analyse moléculaire et structurale détaillée.