Traduit de l'anglais
Imagerie MET et MEBT, diffraction électronique et analyse chimique par EDS et EELS, avec porte-échantillons in situ chauffants et refroidissants, et cartographie d'orientation cristalline.
90 $ US à 200 $ US / heureTous les tarifsVoir les tarifs
Notre JEOL JEM-2100 HR image la structure interne d'échantillons minces en modes MET et MEBT et analyse leur composition chimique par EDS et EELS. La diffraction électronique en précession, la cartographie automatique d'orientation cristalline et de phases, ainsi que la tomographie par diffraction 3D facilitent les travaux de cristallographie, tandis qu'une unité de tomographie reconstruit des images 3D.
Les porte-échantillons permettent de chauffer les échantillons jusqu'à 1273 K ou de les refroidir jusqu'à 77 K in situ. Notre équipement de préparation d'échantillons pour MET comprend l'amincissement par faisceau d'ions, le découpage ionique, le polissage électrolytique, le meulage par cratère d'usure et l'ultramicrotomie.
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