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Le FEI Helios Nanolab 660 DualBeam est un microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés à ultra-haute résolution (FIB-XHR SEM) de pointe conçu pour l'imagerie nanométrique, la modification précise d'échantillons et l'analyse structurale à haute résolution. Grâce à sa capacité DualBeam, ce système intègre de façon transparente l'usinage par FIB et l'imagerie MEB, ce qui le rend idéal pour la science des matériaux, la recherche sur les semi-conducteurs et la préparation d'échantillons pour la cryo-microscopie électronique (cryo-ME).
✅ Système de cryo-transfert Leica Microsystems EM VCT500 - Permet les flux de travail en cryo-FIB/MEB pour les échantillons biologiques et de matière molle sensibles.
✅ Système d'injection de gaz MultiChem - Facilite le dépôt et la gravure de matériaux localisés pour des applications avancées de nanofabrication.
✅ EDAX Octane Ultra (SDD 100 mm²) - Détecteur à dérive de silicium (SDD) de grande surface pour la spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS) à haut débit.
✅ Système d'analyse TEAM 3D EDS - Suite logicielle avancée pour la cartographie élémentaire à haute résolution et l'analyse de composition 3D.
✅ MEB à ultra-haute résolution - Qualité d'imagerie de pointe dans l'industrie pour la caractérisation structurale ultra-fine.
Ce système convient parfaitement aux chercheurs en nanotechnologie, en caractérisation des matériaux et en microélectronique.
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