Traduit de l'anglais
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La JEOL JXA-iHP200F est une microsonde électronique à émission de champ de pointe équipée de 5 spectromètres de rayons X à dispersion de longueur d'onde (WDS) et de deux détecteurs Bruker XFlash6 30mm² SDD EDS. Elle comprend divers cristaux d'analyse, notamment TAP, PETJ, LIF, de grands cristaux TAPL, PETL, LIFL, ainsi que LDE1L et LDE6L pour les éléments légers. Elle permet la cartographie élémentaire par rayons X, l'imagerie en électrons rétrodiffusés et secondaires, ainsi que la minéralogie automatisée grâce au logiciel Bruker AMICS.
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